sample wafer

См. также в других словарях:

• sample wafer — atrankiojo tikrinimo plokštelė statusas T sritis radioelektronika atitikmenys: angl. sample wafer vok. Testscheibe für Stichprobenprüfung, f rus. пластина для выборочного контроля, f; тестовая пластина для выборочного контроля, f pranc. tranche… …   Radioelektronikos terminų žodynas

• Sample return mission — A sample return mission is a spacecraft mission with the goal of returning tangible samples from an location to Earth for analysis. Sample return missions may bring back merely atoms and molecules or a deposit of complex compounds such as dirt… …   Wikipedia

• Christmas wafer — (Polish: opłatek, plural opłatki; Lithuanian: kalėdaitis) is a Central European Christian Christmas tradition celebrated in Polish, Slovak and …   Wikipedia

• Engineering sample — Die Artikel Prozessor (Hardware), Mikroprozessor und Hauptprozessor überschneiden sich thematisch. Hilf mit, die Artikel besser voneinander abzugrenzen oder zu vereinigen. Beteilige dich dazu an der Diskussion über diese Überschneidungen. Bitte… …   Deutsch Wikipedia

• Testscheibe für Stichprobenprüfung — atrankiojo tikrinimo plokštelė statusas T sritis radioelektronika atitikmenys: angl. sample wafer vok. Testscheibe für Stichprobenprüfung, f rus. пластина для выборочного контроля, f; тестовая пластина для выборочного контроля, f pranc. tranche… …   Radioelektronikos terminų žodynas

• atrankiojo tikrinimo plokštelė — statusas T sritis radioelektronika atitikmenys: angl. sample wafer vok. Testscheibe für Stichprobenprüfung, f rus. пластина для выборочного контроля, f; тестовая пластина для выборочного контроля, f pranc. tranche pour inspection sélective, f …   Radioelektronikos terminų žodynas

• tranche pour inspection sélective — atrankiojo tikrinimo plokštelė statusas T sritis radioelektronika atitikmenys: angl. sample wafer vok. Testscheibe für Stichprobenprüfung, f rus. пластина для выборочного контроля, f; тестовая пластина для выборочного контроля, f pranc. tranche… …   Radioelektronikos terminų žodynas

• пластина для выборочного контроля — atrankiojo tikrinimo plokštelė statusas T sritis radioelektronika atitikmenys: angl. sample wafer vok. Testscheibe für Stichprobenprüfung, f rus. пластина для выборочного контроля, f; тестовая пластина для выборочного контроля, f pranc. tranche… …   Radioelektronikos terminų žodynas

• тестовая пластина для выборочного контроля — atrankiojo tikrinimo plokštelė statusas T sritis radioelektronika atitikmenys: angl. sample wafer vok. Testscheibe für Stichprobenprüfung, f rus. пластина для выборочного контроля, f; тестовая пластина для выборочного контроля, f pranc. tranche… …   Radioelektronikos terminų žodynas

• Genesis (spacecraft) — The Genesis spacecraft was the first ever attempt to collect a sample of solar wind, and the first sample return mission to return from beyond the orbit of the Moon. It was launched on August 8, 2001, and crash landed on September 8, 2004 after a …   Wikipedia

• Diffraction topography — (short: topography ) is an X ray imaging technique based on Bragg diffraction. Diffraction topographic images ( topographs ) record the intensity profile of a beam of X rays (or, sometimes, neutrons) diffracted by a crystal. A topograph thus… …   Wikipedia